FAQ

選擇適合的顯微鏡需要考慮多個因素，取決於您的應用需求和預算限制。以下是選擇適合的顯微鏡的一些建議：

1. 應用領域：首先確定您需要顯微鏡用於哪個應用領域。不同的應用領域可能需要不同類型的顯微鏡，如生物學、材料科學、醫學、教育等。確保選擇的顯微鏡能夠滿足您的特定應用需求。
2. 放大倍率：考慮您需要的放大倍率範圍。顯微鏡的放大倍率通常有固定和可調節兩種類型。如果您需要在不同放大倍率下觀察樣本，可調節放大倍率的顯微鏡可能更適合您。
3. 成像方式：根據您的需求選擇合適的成像方式。常見的顯微鏡成像方式包括光學顯微鏡、電子顯微鏡、熒光顯微鏡等。不同的成像方式具有不同的分辨率、深度和特定應用的能力。
4. 光源類型：考慮顯微鏡的光源類型。光學顯微鏡通常使用白光或透射光源，而熒光顯微鏡則需要特定的激發光源。確保選擇的顯微鏡配備適合您應用需求的光源。
5. 操作便捷性：選擇易於操作和使用的顯微鏡。考慮顯微鏡的調焦機制、目鏡和物鏡的調節方式、控制按鈕和界面等方面。一個簡單且直觀的操作界面可以提高您的工作效率。
6. 預算限制：根據您的預算範圍選擇合適的顯微鏡。顯微鏡的價格因型號、品牌和性能而異。確保您在預算範圍內選擇性能良好的顯微鏡，同時滿足您的應用需求。

找顯微鏡就找瑩鴻貿易有限公司，瑩鴻貿易為台灣指標性的顯微鏡代理廠商，我們長年在顯微鏡的市場耕耘發展，提供優良的產品與服務，客戶滿意是我們最大的目標。多年來致力於提供各種不同功能的顯微鏡，例如Carton顯微鏡、生物顯微鏡、實體顯微鏡、攜帶型量測顯微鏡、工作用顯微鏡、桌上型顯微鏡等等...我們的產品不僅輕便且易於操作，更重要的是我們是以用戶的使用需求為出發點，來設計提供最具實用的顯微鏡及其相關設備。

關於瑩鴻貿易：
西元1996年總代理 日本Carton光學株式會社立體工業/生物顯微鏡、Mitutoyo 三豐株式會社 投影機、工具顯微鏡、小量具、 Futaba雙葉電子株式會社光學尺&顯示器，CHUO中央精機株式會社 金相顯微鏡、西德Video影像量測儀、CNC. 2D、3D Video影像量測軟體、SPC品質統計分析系統等…並提供 金型、塑膠模具週邊各種工作母機如銑床、EDM、車床、磨床 CNC綜合切削加工機等銷售與售後服務。
瑩鴻貿易有限公司致力在顯微鏡、電子顯微鏡、CCD Camera、視覺檢測...的發展。我們所代理的顯微鏡可媲美olympus顯微鏡、nikon顯微鏡的品質，提供客戶精準、高品質的產品一直是我們公司的主旨。
往後本公司並將繼續秉持此理念為業界作更豐富、更專業的服務。

可參考以下步驟，或是不清楚的地方，可以直接致電給我們02-25976788

✓ 操做顯微鏡時，須一手握住鏡臂，另一手托住鏡座，動作必須小心謹慎，不可以隨便弄壞或弄髒。
✓ 顯微鏡應放在桌上向內距桌沿數吋的地方，以免無意中使其跌落地面。
✓ 勿放置在離心機和其它會震動的儀器 以及水漕旁邊。
✓ 移動時要用雙手拿住。絕不可讓鏡頭和其他重要部分沾水弄濕。調整、更換鏡頭時，要按步就班地旋轉調節輪。
✓ 長時間不使用的情況下，請用塑料罩蓋好，並儲放在乾燥的地方防塵防霉。 建議將物鏡和目鏡保存在乾燥器的容器中，以免影響顯微鏡的性能。
✓ 不可讓鏡頭接觸顯微鏡油。若不小心碰到，應立即使用鏡片清潔液清潔鏡頭。
✓ 有塵埃時應使用吹氣刷清除，不可使用拭鏡紙或布，以免刮傷鏡片。

利用透鏡放大物像送到眼睛或成像儀器，解析度大約為一微米，可以看到細胞大小的物品。一般來說顯微鏡大都是指光學顯微鏡，光學顯微鏡依設計的不同，又可分為正立顯微鏡、倒立顯微鏡（又稱倒置顯微鏡）和解剖顯微鏡（又稱實體顯微鏡或立體顯微鏡）；又有偏光顯微鏡：又稱為岩石顯微鏡、礦物顯微鏡或金屬顯微鏡，用以觀察岩石、礦物及金屬表面，是利用光的不同性質（偏光）而做成的；相襯顯微鏡：觀察變形蟲、草履蟲等透明生物時，所使用的顯微鏡。它的特殊裝置可以將光透過生物體所產生的偏差，改變為明暗不同；又結合光學顯微鏡並利用雷射光作為光源，以達到特殊觀察需求的有共聚焦顯微鏡（又譯作共軛焦顯微鏡）。【資料來源---維基百科】

如要選購光學顯微鏡或是不清楚的地方，可以直接致電給我們02-25976788 Email: ynghorng@ms29.hinet.net

【顯微鏡的發明】

最早的顯微鏡是16世紀在荷蘭製造出來，發明者是亞斯·詹森,荷蘭眼鏡商。同時另一位荷蘭科學家漢斯·利珀希也製造了顯微鏡。後來有兩個人開始在科學上使用顯微鏡，第一個是義大利科學家伽利略。他在1611年通過顯微鏡觀察到一種昆蟲後，第一次對它的複眼進行了描述。第二個是荷蘭亞麻織品商人雷文霍克（1635年-1703年），他自己學會了磨製透鏡。他第一次描述了許多肉眼所看不見的微小植物和動物。

1953年，弗里茨·塞爾尼克因為對相襯法的證實，發明相襯顯微鏡獲得諾貝爾物理學獎。

1986年，恩斯特·魯斯卡因研製第一台透視電子顯微鏡獲得諾貝爾物理學獎。格爾德·賓寧、海因里希·羅雷爾因研製掃描隧道顯微鏡獲得諾貝爾物理學獎

2014年10月8日，諾貝爾化學獎頒給了艾力克·貝齊格 (Eric Betzig)，W·E·莫爾納爾 (William Moerner)和斯特凡·W·赫爾 (Stefan Hell)，獎勵其發展超分辨熒光顯微鏡 (Super-Resolved Fluorescence Microscopy)，帶領光學顯微鏡進入奈米級尺度中。

2017年，雅克·杜博歇、約阿希姆·弗蘭克、理察·亨德森因研製用於溶液內生物分子的高解析度結構測定的低溫電子顯微鏡獲得諾貝爾化學獎。

【顯微鏡的用途】

物質成分分析。
礦物質分析。
分子、中子、原子等分析。
細胞、基因等分析。
細菌、病毒分析。
金相分析
集成電路生產中各種檢測。
電子器件檢測，如晶振、連接器、液晶屏扽。

【以上資料來源: 維基百科】

在20世紀初的一種光學顯微鏡顯著替代被開發，利用電子而不利用光線來產生圖像。於1931年，恩斯特·魯斯卡（Ernst Ruska）開始開發第一個電子顯微鏡- 透射電子顯微鏡（TEM）。透射電子顯微鏡的工作原理和光學顯微鏡有相同的原理，但在使用光的地方用電子代替，在使用玻璃透鏡的地方用電磁鐵代替。使用電子而不是光線允許更高的解析度。

緊接著透射電子顯微鏡的開發，是馬克斯·諾爾在1935年開發的掃描電子顯微鏡（SEM）。

不使用光線而利用電子流來照射標本來觀察的顯微鏡。由於電子用肉眼看不出，因此就使電子透過觀察材料，而映在塗有螢光劑的板子上，這種方法稱為穿透式電子顯微鏡。另一種方法是以電流在觀察材料的表面移動，然後使觀察材料所放出的二次電子流映在真空管上，以這種方式觀察的稱為掃描式電子顯微鏡。穿透式電子顯微鏡可放大80萬倍，可以看出分子的形象；掃描式電子顯微鏡可用以觀察立體的表面，放大倍率約20萬倍。電子顯微鏡分為透射電子顯微鏡、能量過濾透過式電子顯微鏡、掃描電子顯微鏡、場發射掃描電子顯微鏡、掃描透射電子顯微鏡等類型。某些電子顯微鏡甚至能看到單一原子。原理：物質波理論告訴我們，電子也具有波動性質，所以可以用類似光學顯微鏡的原理，做成顯微鏡。不一樣的是，這裡將凸透鏡改成磁鐵，由於電子的波長比可見光短，所以他可以比光學顯微鏡「看」到更小的東西，如：病毒。

【以上資料來源取自: 維基百科】

若有需要選購電子顯微鏡或不清楚的地方,歡迎您與我們聯絡 02-25976788 Email: ynghorng@ms29.hinet.net

選擇適合的膜厚計需要考慮多個因素。以下是一些選擇膜厚計的關鍵考慮因素：

【測量對象】：首先確定您需要測量的薄膜類型和特性。不同的膜厚計適用於不同類型的材料，如金屬薄膜、塑料薄膜、塗層等。確保選擇的膜厚計能夠準確測量您所需的薄膜類型。
【測量範圍】：考慮您需要測量的薄膜厚度範圍。不同的膜厚計具有不同的測量範圍，從幾納米到數百微米不等。選擇一個能夠涵蓋您所需範圍的膜厚計。
【精度和分辨率】：膜厚計的精度和分辨率是測量結果的重要指標。較高的精度和分辨率將提供更準確的測量結果。根據您的需求，選擇具有適當精度和分辨率的膜厚計。
【 測量速度】：考慮測量速度對您的應用的重要性。一些膜厚計可以提供實時測量結果，而其他一些可能需要更長的時間來完成測量。根據您的需求，選擇適當的測量速度。
【使用便捷性】：確保選擇的膜厚計易於使用和操作。簡單的界面、易讀的顯示屏以及方便的功能設置將有助於提高工作效率。
【附加功能】：一些膜厚計可能具有附加功能，如數據記錄、統計分析、遠程控制等。根據您的需求，考慮這些額外功能是否對您有幫助。
【成本效益】：最後，根據您的預算考慮膜厚計的價格和性能之間的平衡。確保您選擇的膜厚計在提供所需功能和性能的同時，能夠提供良好的成本效益。

最佳的選擇將取決於您的具體應用需求、預算限制和個人偏好。在做出決定之前，建議您研究不同品牌和型號的膜厚計，並與供應商進行溝通，以獲取更多關於性能和適用性的信息。

膜厚計（Film Thickness Gauge）是一種用於測量薄膜、塗層或薄層材料厚度的儀器。它廣泛應用於材料科學、化學工程、表面處理、塗料工業等領域。膜厚計通過不同的測量原理和技術，可以實時、非破壞性地測量薄膜的厚度，從而幫助控制和優化塗層和薄膜的製備過程。以下是一些常見的膜厚計類型和工作原理：

1. 機械式膜厚計：機械式膜厚計使用一根細絲或彈簧的變形來測量薄膜的厚度。當細絲或彈簧與薄膜接觸時，壓力的變化會轉化為厚度的測量結果。這種類型的膜厚計簡單易用，適用於較大厚度範圍的薄膜測量。

2. 光學膜厚計：光學膜厚計利用光的干涉原理來測量薄膜的厚度。其中一種常見的技術是通過測量透射或反射光的干涉條紋來計算薄膜的厚度。這種膜厚計具有高精度和高分辨率，並適用於透明或半透明薄膜的測量。

3. X射線膜厚計：X射線膜厚計利用X射線的穿透性質來測量薄膜的厚度。 X射線經過薄膜後的強度變化與薄膜厚度有關。通過測量X射線的吸收或散射情況，可以確定薄膜的厚度。這種膜厚計適用於金屬薄膜等材料的測量。

4. 電磁感應膜厚計：電磁感應膜厚計利用電磁感應原理來測量薄膜的厚度。它通過測量電磁場的變化來計算薄膜的厚度。這種膜厚計適用於金屬或導電性薄膜的測量。

5. 超聲波膜厚計：超聲波膜厚計利用超聲波的傳播速度和反射特性來測量薄膜的厚度。超聲波被發送到薄膜表面，經過薄膜後反射回來，通過測量超聲波的傳播時間或幅度變化來計算薄膜的厚度。

膜厚計通常具有數字顯示屏和數據記錄功能，可以提供實時的厚度測量結果。一些高級的膜厚計還可以通過連接到計算機或其他設備，進行數據分析和處理，以實現更精確的薄膜測量和質量控制。

【美國 DeFelsko PosiTector 6000 系列膜厚計 】