FAQ

选择适合的显微镜需要考虑多个因素，取决于您的应用需求和预算限制。以下是选择适合的显微镜的一些建议：

1. 应用领域：首先确定您需要显微镜用于哪个应用领域。不同的应用领域可能需要不同类型的显微镜，如生物学、材料科学、医学、教育等。确保选择的显微镜能够满足您的特定应用需求。
2. 放大倍率：考虑您需要的放大倍率范围。显微镜的放大倍率通常有固定和可调节两种类型。如果您需要在不同放大倍率下观察样本，可调节放大倍率的显微镜可能更适合您。
3. 成像方式：根据您的需求选择合适的成像方式。常见的显微镜成像方式包括光学显微镜、电子显微镜、荧光显微镜等。不同的成像方式具有不同的分辨率、深度和特定应用的能力。
4. 光源类型：考虑显微镜的光源类型。光学显微镜通常使用白光或透射光源，而荧光显微镜则需要特定的激发光源。确保选择的显微镜配备适合您应用需求的光源。
5. 操作便捷性：选择易于操作和使用的显微镜。考虑显微镜的调焦机制、目镜和物镜的调节方式、控制按钮和界面等方面。一个简单且直观的操作界面可以提高您的工作效率。
6. 预算限制：根据您的预算范围选择合适的显微镜。显微镜的价格因型号、品牌和性能而异。确保您在预算范围内选择性能良好的显微镜，同时满足您的应用需求。

找显微镜就找莹鸿贸易有限公司，莹鸿贸易为台湾指标性的显微镜代理厂商，我们长年在显微镜的市场耕耘发展，提供优良的产品与服务，客户满意是我们最大的目标。多年来致力于提供各种不同功能的显微镜，例如Carton显微镜、生物显微镜、实体显微镜、携带型量测显微镜、工作用显微镜、桌上型显微镜等等...我们的产品不仅轻便且易于操作，更重要的是我们是以用户的使用需求为出发点，来设计提供最具实用的显微镜及其相关设备。

关于莹鸿贸易：
西元1996年总代理日本Carton光学株式会社立体工业/生物显微镜、Mitutoyo 三丰株式会社投影机、工具显微镜、小量具、 Futaba双叶电子株式会社光学尺&显示器，CHUO中央精机株式会社金相显微镜、西德Video影像量测仪、CNC. 2D、3D Video影像量测软体、SPC品质统计分析系统等…并提供金型、塑胶模具周边各种工作母机如铣床、EDM、车床、磨床CNC综合切削加工机等销售与售后服务。
莹鸿贸易有限公司致力在显微镜、电子显微镜、CCD Camera、视觉检测...的发展。我们所代理的显微镜可媲美olympus显微镜、nikon显微镜的品质，提供客户精准、高品质的产品一直是我们公司的主旨。
往后本公司并将继续秉持此理念为业界作更丰富、更专业的服务。

可参考以下步骤，或是不清楚的地方，可以直接致电给我们02-25976788

✓ 操做显微镜时，须一手握住镜臂，另一手托住镜座，动作必须小心谨慎，不可以随便弄坏或弄脏。
✓ 显微镜应放在桌上向内距桌沿数吋的地方，以免无意中使其跌落地面。
✓ 勿放置在离心机和其它会震动的仪器以及水漕旁边。
✓ 移动时要用双手拿住。绝不可让镜头和其他重要部分沾水弄湿。调整、更换镜头时，要按步就班地旋转调节轮。
✓ 长时间不使用的情况下，请用塑料罩盖好，并储放在干燥的地方防尘防霉。建议将物镜和目镜保存在干燥器的容器中，以免影响显微镜的性能。
✓ 不可让镜头接触显微镜油。若不小心碰到，应立即使用镜片清洁液清洁镜头。
✓ 有尘埃时应使用吹气刷清除，不可使用拭镜纸或布，以免刮伤镜片。

利用透镜放大物像送到眼睛或成像仪器，解析度大约为一微米，可以看到细胞大小的物品。一般来说显微镜大都是指光学显微镜，光学显微镜依设计的不同，又可分为正立显微镜、倒立显微镜（又称倒置显微镜）和解剖显微镜（又称实体显微镜或立体显微镜）；又有偏光显微镜：又称为岩石显微镜、矿物显微镜或金属显微镜，用以观察岩石、矿物及金属表面，是利用光的不同性质（偏光）而做成的；相衬显微镜：观察变形虫、草履虫等透明生物时，所使用的显微镜。它的特殊装置可以将光透过生物体所产生的偏差，改变为明暗不同；又结合光学显微镜并利用雷射光作为光源，以达到特殊观察需求的有共聚焦显微镜（又译作共轭焦显微镜）。 【资料来源---维基百科】

如要选购光学显微镜或是不清楚的地方，可以直接致电给我们02-25976788 Email: ynghorng@ms29.hinet.net

【显微镜的发明】

最早的显微镜是16世纪在荷兰制造出来，发明者是亚斯·詹森,荷兰眼镜商。同时另一位荷兰科学家汉斯·利珀希也制造了显微镜。后来有两个人开始在科学上使用显微镜，第一个是义大利科学家伽利略。他在1611年通过显微镜观察到一种昆虫后，第一次对它的复眼进行了描述。第二个是荷兰亚麻织品商人雷文霍克（1635年-1703年），他自己学会了磨制透镜。他第一次描述了许多肉眼所看不见的微小植物和动物。

1953年，弗里茨·塞尔尼克因为对相衬法的证实，发明相衬显微镜获得诺贝尔物理学奖。

1986年，恩斯特·鲁斯卡因研制第一台透视电子显微镜获得诺贝尔物理学奖。格尔德·宾宁、海因里希·罗雷尔因研制扫描隧道显微镜获得诺贝尔物理学奖

2014年10月8日，诺贝尔化学奖颁给了艾力克·贝齐格(Eric Betzig)，W·E·莫尔纳尔(William Moerner)和斯特凡·W·赫尔(Stefan Hell) ，奖励其发展超分辨荧光显微镜(Super-Resolved Fluorescence Microscopy)，带领光学显微镜进入奈米级尺度中。

2017年，雅克·杜博歇、约阿希姆·弗兰克、理察·亨德森因研制用于溶液内生物分子的高解析度结构测定的低温电子显微镜获得诺贝尔化学奖。

【显微镜的用途】

物质成分分析。
矿物质分析。
分子、中子、原子等分析。
细胞、基因等分析。
细菌、病毒分析。
金相分析集成电路生产中各种检测。
电子器件检测，如晶振、连接器、液晶屏扽。

【以上资料来源: 维基百科】

在20世纪初的一种光学显微镜显著替代被开发，利用电子而不利用光线来产生图像。于1931年，恩斯特·鲁斯卡（Ernst Ruska）开始开发第一个电子显微镜- 透射电子显微镜（TEM）。透射电子显微镜的工作原理和光学显微镜有相同的原理，但在使用光的地方用电子代替，在使用玻璃透镜的地方用电磁铁代替。使用电子而不是光线允许更高的解析度。

紧接着透射电子显微镜的开发，是马克斯·诺尔在1935年开发的扫描电子显微镜（SEM）。

不使用光线而利用电子流来照射标本来观察的显微镜。由于电子用肉眼看不出，因此就使电子透过观察材料，而映在涂有萤光剂的板子上，这种方法称为穿透式电子显微镜。另一种方法是以电流在观察材料的表面移动，然后使观察材料所放出的二次电子流映在真空管上，以这种方式观察的称为扫描式电子显微镜。穿透式电子显微镜可放大80万倍，可以看出分子的形象；扫描式电子显微镜可用以观察立体的表面，放大倍率约20万倍。电子显微镜分为透射电子显微镜、能量过滤透过式电子显微镜、扫描电子显微镜、场发射扫描电子显微镜、扫描透射电子显微镜等类型。某些电子显微镜甚至能看到单一原子。原理：物质波理论告诉我们，电子也具有波动性质，所以可以用类似光学显微镜的原理，做成显微镜。不一样的是，这里将凸透镜改成磁铁，由于电子的波长比可见光短，所以他可以比光学显微镜「看」到更小的东西，如：病毒。

【以上资料来源取自: 维基百科】

若有需要选购电子显微镜或不清楚的地方,欢迎您与我们联络02-25976788 Email: ynghorng@ms29.hinet.net

选择适合的膜厚计需要考虑多个因素。以下是一些选择膜厚计的关键考虑因素：

【测量对象】：首先确定您需要测量的薄膜类型和特性。不同的膜厚计适用于不同类型的材料，如金属薄膜、塑料薄膜、涂层等。确保选择的膜厚计能够准确测量您所需的薄膜类型。
【测量范围】：考虑您需要测量的薄膜厚度范围。不同的膜厚计具有不同的测量范围，从几纳米到数百微米不等。选择一个能够涵盖您所需范围的膜厚计。
【精度和分辨率】：膜厚计的精度和分辨率是测量结果的重要指标。较高的精度和分辨率将提供更准确的测量结果。根据您的需求，选择具有适当精度和分辨率的膜厚计。
【 测量速度】：考虑测量速度对您的应用的重要性。一些膜厚计可以提供实时测量结果，而其他一些可能需要更长的时间来完成测量。根据您的需求，选择适当的测量速度。
【使用便捷性】：确保选择的膜厚计易于使用和操作。简单的界面、易读的显示屏以及方便的功能设置将有助于提高工作效率。
【附加功能】：一些膜厚计可能具有附加功能，如数据记录、统计分析、远程控制等。根据您的需求，考虑这些额外功能是否对您有帮助。
【成本效益】：最后，根据您的预算考虑膜厚计的价格和性能之间的平衡。确保您选择的膜厚计在提供所需功能和性能的同时，能够提供良好的成本效益。

最佳的选择将取决于您的具体应用需求、预算限制和个人偏好。在做出决定之前，建议您研究不同品牌和型号的膜厚计，并与供应商进行沟通，以获取更多关于性能和适用性的信息。

膜厚计（Film Thickness Gauge）是一种用于测量薄膜、涂层或薄层材料厚度的仪器。它广泛应用于材料科学、化学工程、表面处理、涂料工业等领域。膜厚计通过不同的测量原理和技术，可以实时、非破坏性地测量薄膜的厚度，从而帮助控制和优化涂层和薄膜的制备过程。以下是一些常见的膜厚计类型和工作原理：

1. 机械式膜厚计：机械式膜厚计使用一根细丝或弹簧的变形来测量薄膜的厚度。当细丝或弹簧与薄膜接触时，压力的变化会转化为厚度的测量结果。这种类型的膜厚计简单易用，适用于较大厚度范围的薄膜测量。

2. 光学膜厚计：光学膜厚计利用光的干涉原理来测量薄膜的厚度。其中一种常见的技术是通过测量透射或反射光的干涉条纹来计算薄膜的厚度。这种膜厚计具有高精度和高分辨率，并适用于透明或半透明薄膜的测量。

3. X射线膜厚计：X射线膜厚计利用X射线的穿透性质来测量薄膜的厚度。 X射线经过薄膜后的强度变化与薄膜厚度有关。通过测量X射线的吸收或散射情况，可以确定薄膜的厚度。这种膜厚计适用于金属薄膜等材料的测量。

4. 电磁感应膜厚计：电磁感应膜厚计利用电磁感应原理来测量薄膜的厚度。它通过测量电磁场的变化来计算薄膜的厚度。这种膜厚计适用于金属或导电性薄膜的测量。

5. 超声波膜厚计：超声波膜厚计利用超声波的传播速度和反射特性来测量薄膜的厚度。超声波被发送到薄膜表面，经过薄膜后反射回来，通过测量超声波的传播时间或幅度变化来计算薄膜的厚度。

膜厚计通常具有数字显示屏和数据记录功能，可以提供实时的厚度测量结果。一些高级的膜厚计还可以通过连接到计算机或其他设备，进行数据分析和处理，以实现更精确的薄膜测量和质量控制。

【美国DeFelsko PosiTector 6000 系列膜厚计】